Elektrophysik MiniTest 740測厚儀原廠供應

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Elektrophysik MiniTest 740測厚儀原廠供應

德國Elektrophysik測厚儀MiniTest 740與同系列的產(chǎn)品MiniTest720和730相比提供可更換的F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用，F(xiàn)N探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，應用范圍更加廣泛。根據(jù)探頭類型的不同，采用了磁性法和渦流法兩種測厚方法。F型探頭采用磁性法，可測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。

N型探頭采用渦流法，可測量非鐵磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)和奧氏體不銹鋼上非導電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等)

FN則是兩用型。

德國EPK公司涂鍍層測厚儀（Elektrophysik)一直致力于開發(fā)和生產(chǎn)各種用于表面處理行業(yè)的精密測量的涂層測厚儀，EPK公司與各標準化組織和研究院一道，成功地推進了涂層厚度檢測在世界范圍內(nèi)的標準化進程。大量的技術與成果表明EPK公司是該涂層檢測的*。

Elektrophysik MiniTest 740測厚儀原廠供應技術參數(shù)：

探頭特性 F1.5， N0.7，F(xiàn)N1.5 F2 F5，N2.5，F(xiàn)N5 F15 F N F F N F
測量范圍 0-1.5mm 0-0.7mm 0-2mm 0-5mm 0-2.5mm 0-15mm
使用范圍小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用粗糙表面標準探頭，使用廣泛厚涂層

測量原理磁感應電渦流磁感應磁感應電渦流磁感應信號處理探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP）
度 ±（1μm+0.75%讀值） ±（1.5μm+0.75%讀值） ±（5μm+0.75%讀值）

重復性 ±（0.5μm+0.5%讀值） ±（0.8μm+0.5%讀值） ±（2.5μm+0.5%讀值）

低端分辨率 0.05μm 0.1μm 1μm
zui小曲率半徑（凸） 1.0mm 1.5mm 5mm
zui小曲率半徑（凹，外置探頭） 7.5mm 10mm 25mm

zui小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭） 30mm 30mm 30mm zui小測量面積 Φ5mm Φ10mm Φ25mm
zui小基體厚度 0.3mm 40μm 0.5mm 0.5mm 40μm 1mm

連續(xù)模式下測量速度每秒20個讀數(shù)

單值模式下zui大測量速度每分鐘70個讀數(shù)

篤摯儀器（上海）有限公司以“優(yōu)質(zhì)成就價值——Focus On Better Quality”為宗旨，專注于計量檢測和材料分析設備的研究、引進與推廣，公司以深厚的工程技術背景和高效率的資源整合幫助企業(yè)在原始設計、開發(fā)周期、產(chǎn)品質(zhì)量、在役檢測等各方面顯著提升效率和可靠性，歡迎留言或來電詢價！！

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