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Fischer菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀
DUALSCOPE FMP40 This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials. 
DualScope FMP40測厚儀特點：
菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀能夠通過電腦計算機可以編輯應用程式名稱（可選件：MP-Name軟件）
Fischer DUALSCOPE FMP40測厚儀擁有數據組統(tǒng)計值和所有數據統(tǒng)計值
DUALSCOPE FMP40測厚儀能夠展現測量數據直方圖顯示
菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀可輸入上下限公差并估算 cp 和 cpk值
FMP40測厚儀的測量結果超出公差范圍時儀器發(fā)出視覺和聲音警告
DualScope FMP40測厚儀
菲希爾DualScope FMP40測厚儀能夠自動識別底材材料并且集成了兩種測量方法，使這個系列的儀器可以測量鋼材和鐵材亦或是非鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。菲希爾DualScope FMP40測厚儀由于集合了兩種測量方法，這個系列的儀器還能夠在一次測量過程中同時測得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示出來。
DUALSCOPE FMP40測厚儀采用了磁感應和電渦流兩種方法。
磁感應方法：
通過探頭的激勵電流產生一個低頻磁場區(qū)域，該磁場的強度取決于涂鍍層厚度并經磁性基材放大。測量線圈捕獲這個放大信號，然后通過儲存在儀器內的探頭特征曲線將信號轉換為涂鍍層厚度。
應用：鋅、鉻、銅等電鍍層或涂覆或噴濺上去的非磁性鍍層或油漆、塑料等涂層在鋼和鐵上。
電渦流方法：
通過探頭的激勵電流產生一個高頻初級磁場區(qū)域，該磁場在基材內產生感生電渦流，次級磁場區(qū)域削弱初級磁場區(qū)域，削弱影響相當于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過儲存在儀器內的探頭特征曲線將削弱影響轉換為涂鍍層厚度值顯示出來。
DUALSCOPE FMP40 This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.
Fischer菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀
